晶圆电阻率测量探头-四点探针头

MPP是四点探头的供应商，可用于晶圆电阻率以及导电薄膜的加工制造。

我们的探头在全球已使用多年，可用于负盛名的晶圆电阻率测量设备上。

可用于KLA、KOKUSAL、Napson等知名晶圆电阻测量设备。

我们可制造一整套复杂探头组件（主体，布线和针），并且提供定制的服务。

经过多年经验的积累，我们的专业技术人员可装配出高精度的探头，用于满足市场上的短期交付使用要求。

顶针之间的间隙范围可达到：0.635mm--1.591 mm（紧密度容限：+/-0.005mm）。

顶针压力范围在：50g --200g（紧密度容限：+/-1g）。

根据需求，我们只提供顶针，我们的顶针在市场上属于精良顶针，它的超细抛光顶针的顶部半径可从0.025mm -- 0.635mm。

针尖半径尺寸范围：0.025mm--0.635mm。